阻抗特性試驗(yàn)單元用于自動測試阻抗型繼電器（包括阻抗繼電器、功率方向繼電器等）的動作邊界，即 Z(φ) 動作邊界特性。
       試驗(yàn)原理
       程序主要使用輻射式掃描方式進(jìn)行搜索，輻射式掃描一般用于搜索圓形、四邊形等封閉式的動作邊界（如阻抗繼電器）。
       試驗(yàn)中待測試的掃描邊界點(diǎn)由掃描角區(qū)域和步長決定，此處，掃描角度以平行于R 軸為 0°。例：取掃描角區(qū)域?yàn)?0°到 160°，步長為 40°，則程序自動以 0°為起點(diǎn)，以160°為終點(diǎn)，按逆時針方向，每隔 40°計(jì)算一條掃描線。各掃描線的起點(diǎn)均為中心阻抗Z ，長度由掃描半徑?jīng)Q定，每條掃描線與整定邊界特性的交叉點(diǎn)即為測試時等待搜索的動作邊界點(diǎn)。
       為了加快每個邊界點(diǎn)的搜索過程，各掃描線上的搜索起點(diǎn)應(yīng)盡可能地接近邊界點(diǎn)，為此程序提供了掃描線搜索起點(diǎn)K%的設(shè)置，即邊界點(diǎn)只需在每條掃描線掃描半徑的K%到100%之間進(jìn)行搜索即可。一般地，應(yīng)保證掃描半徑的K%位于動作區(qū)內(nèi)，100%位于動作區(qū)外，即掃描線必須*覆蓋動作邊界。
       如果程序計(jì)算過程中發(fā)現(xiàn)某條掃描線的搜索起點(diǎn)或終點(diǎn)的電壓、電流越限，則自動忽略該掃描線。